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扫描电子显微镜股票

发布时间: 2021-08-04 10:16:03

『壹』 什么是扫描电子显微镜

【扫描电子显微镜】简称“`SEM`”。一种超高分辨的具表面测试技术的分析仪器。可用于微粒、金属薄片等表面性质的研究。主要是利用电子束在样品表面上逐点扫描,通过电子束与样品相互作用,从样品上激发出与样品性质有关的各种信息(如二次电子、背射电子、`X`射线等),通过分别收集这些从样品上激发出的信息,经电子线路放大处理后输入以阴极射线管的栅极,控制其电子束的强弱,也即控制阴极射线管的亮度来显示样品的图象。可进行各种图象观察、元素分析及品体结构分析,可

『贰』 扫描电子显微镜有何特点和用途

一.扫描电镜的特点

  1. 能够直接观察样品表面的结构,样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。

  2. 样品制备过程简单,不用切成薄片。

  3. 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转,因此,可以从各种角度对样品进行观察。

  4. 景深大,图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍,比透射电镜大几十倍。

  5. 图象的放大范围广,分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍,它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间,可达3nm。

  6. 电子束对样品的损伤与污染程度较小。

  7. 在观察形貌的同时,还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。

二.扫描电镜的用途

  1. 显微结构的分析

  2. 纳米尺寸的研究

  3. 铁电畴的观测

『叁』 一般的扫描电子显微镜需要多少钱

估计最小仓容尺寸的都要100多万,电镜是高科技的东西,如果你配能谱的话更贵

『肆』 全球电子显微镜(扫描电镜,透射电镜)市场情况如何 如何在中国选购扫描电镜

全球市场情况:阿猫阿狗国家做不了电子显微镜,缺乏理由和实力。美德日轴心国,产品互补,占据产量占据全球80%份额;其次前苏联马前卒先进装备制造国-捷克,被美国FEI收购大部分产能;中国大跃进年代介入该领域,总体上人亡政息;2000年后,韩国纳米技术为国策,坚定进入该领域研制。
如何在中国市场选购:
首先:应该选择制造商代表处直接联系!虽然当前中国骗子多,喜欢被骗的也多,我还是要陈述理由!
扫描电镜的制造和应用技术特点,也决定了在市场环节,不是阿猫阿狗,任何人都能够做的好的。只有制造商或者非常专业的机构,全力以赴,才能支持用户的良好使用。然而市场上的情况也是有些混乱的,有些阿猫阿狗区域性仪器经销商,不知道深浅,从销售环节介入扫描电镜市场。实际情况是,扫描电镜这种专业复杂的精密仪器,和其他产品线很难渠道兼容,在同一个公司内部都不会借用,何况不相干的公司。实质上任何制造商,除非设立全国总代理,否则都没有分销商的明确政策,中间的利益交换,影响制造商的利润,势必损害最终用户的利益。
其次,找专业人士做需求分析。
特别说明韩国扫描电镜情况:
韩国SeronTech世伦科技:国内没有专业机构,总代理更换过两个,经过多年尝试都已经主动放弃!阿猫阿狗都不闻~
韩国SEC公司:利用一些看起来有点像那么回事的阿猫阿狗在做代理。
韩国COXEM:由行业专业人士驰奔为首席代表,在北京设立专业推广及支持机构。大陆和香港有些阿猫阿狗也在捣乱,但国内专业机构,不支持阿猫阿狗行为。

『伍』 电子透射显微镜和电子扫描显微镜的区别是什么

透射电子显微镜是用透过样品的电子束使其成像的电子显微镜,在一个高真空系统中,由电子枪发射电子束,穿过被研究的样品,经电子透镜聚焦放大,在荧光屏上显示出高度放大的物像,还可作摄片记录的一类最常见的电子显微镜
电子扫描显微镜是用电子探针对样品表面扫描使其成像的电子显微镜。应用电子束在样品表面扫描激发二次电子成像的电子显微镜。主要用于研究样品表面的形貌与成分。
透射电镜(全称:透射电子显微镜)是一个电子光学仪器。

透射电镜包含大型透射电镜、低压透射电镜、冷冻电镜等,并拥有样品内部组织形貌观察、原位的电子衍射分析、原位的成分分析、表面形貌观察等功能。

『陆』 谁能教我分析扫描电子显微镜(SEM)的图片,急求大神。

那你也得说清楚分析什么,是什么物质?

『柒』 扫描电子显微镜可用于:( )

(C)(D)
扫描电子显微镜,可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。扫描电子显微镜正是根据上述不同信息产生的机理,采用不同的信息检测器,使选择检测得以实现。如对二次电子、背散射电子的采集,可得到有关物质微观形貌的信息;对x射线的采集,可得到物质化学成分的信息。正因如此,根据不同需求,可制造出功能配置不同的扫描电子显微镜。

『捌』 扫描电子显微镜

扫描电子显微镜,简称扫描电镜,英文名为Scanning Electron Microscope,缩写为SEM,是利用高能量的电子束在固体样品表面扫描,激发出二次电子、背散射电子、X射线等物理信号,从而获得样品表面图像及测定元素成分的一种电子光学仪器。

扫描电镜,按其功能划分,由电子光学系统、信号检测和放大系统、扫描系统、图像显示和记录系统、真空系统以及电源系统等六个部分组成(图5-1)。由电子枪发出,经电磁透镜会聚的电子束,由扫描线圈控制在固体样品表面作光栅式扫描,入射至样品中数微米深的范围内。这些高能电子与样品中原子相互作用后,使样品内产生二次电子、背散射电子、X射线等物理信号。

在入射电子的作用下从固体样品中射出的,能量小于50e V的电子都称为二次电子(Secondary Electron,常以缩写SE表示)。大部分二次电子的能量在3~5e V之间。背散射电子(Backscattered Electron,常以缩写BE表示)是被固体样品原子反射回来的入射电子,所以有时又称为反射电子(reflected electron,请勿称作背反射电子),其能量与入射电子的能量相等或接近相等。

图5-1 扫描电子显微镜的结构(未显示电源系统)

扫描电镜中的成像与闭路电视的成像相似。样品中产生的二次电子、背散射电子等物理信号可分别由检测器逐点逐行采集,并按顺序和成比例地将物理信号进行处理后输送到阴极射线管的栅极调制其亮度,显示出样品的图像。扫描电镜镜筒中的电子束在样品表面的扫描与阴极射线管中电子束在成像平面上的扫描是同步的。因此,阴极射线管上的图像与样品实物是逐点逐行一一对应的。由于样品表面各部位的形貌、成分和结构等的差异,被激发的二次电子、背散射电子数量有所不同,从而在阴极射线管上形成反映样品表面特征的明暗不同的图像。因此,扫描电镜的图像是一种衬度图像,并不是彩色图像。早期的扫描电镜图像是模拟图像,由照相底片记录。近年来图像均已数字化,可由计算机储存和显示。

由于二次电子能量较低,在距离表面10nm以上的样品内部产生的二次电子几乎全被邻近的原子吸收而无法逸出样品被检测器检测到。因此,二次电子像所反映的信息完全是样品表面的特征,是扫描电镜中使用最多的图像(图5-2)。

扫描电镜图像的特点是:① 放大倍数范围大,其有效放大倍数可从数十倍至十万倍,基本上概括了放大镜、光学显微镜至透射电镜的放大倍数范围。②分辨率高,景深大,立体感强。其二次电子图像的分辨率已达3nm,比光学显微镜约高5个数量级。在同一放大倍数下扫描电镜图像的景深比光学显微镜的景深大10~100倍。

图5-2 草莓状黄铁矿的扫描电子图像

扫描电镜对样品的基本要求是:①样品必须是干燥、清洁的固体,在高能电子束的轰击下不变形,不变质,并能经受住真空的压力。②样品必须导电。不导电的样品可在表面喷镀一层导电膜。近几年有些不导电的样品在数百伏的低加速电压下也能进行观察。因此,光片、没有盖玻璃的薄片以及断面等都能在扫描电镜中进行观察。对样品的大小也没有严格的要求,观察面积约1cm2,样品高度小于1cm较为适中。

近年来绝大多数扫描电镜都配备X射线能谱仪,有时还可配备电子背散射衍射部件,在观察图像的同时还可在原地进行微区的成分和结构分析。详情请见本章第三节和第四节的相关部分。

『玖』 扫描电子显微镜的优点

和光学显微镜及透射电镜相比,扫描电镜具有以下特点:
(一) 能够直接观察样品表面的结构,样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
(二) 样品制备过程简单,不用切成薄片。
(三) 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转,因此,可以从各种角度对样品进行观察。
(四) 景深大,图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍,比透射电镜大几十倍。
(五) 图象的放大范围广,分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍,它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间,可达3nm。
(六) 电子束对样品的损伤与污染程度较小。
(七) 在观察形貌的同时,还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。

『拾』 扫描电子显微镜的工作原理

扫描电子显微镜的工作原理:

扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。

当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时可产生电子-空穴对、晶格振动(声子)、电子振荡(等离子体)。

(10)扫描电子显微镜股票扩展阅读:

研发历程:

1873 Abbe 和Helmholfz 分别提出解像力与照射光的波长成反比。奠定了显微镜的理论基础。

1931德国物理学家Knoll 及Ruska 首先发展出穿透式电子显微镜原型机。

1938 第一部扫描电子显微镜由Von Ardenne 发展成功。

1959年第一台100KV电子显微镜 1975年第一台扫描电子显微镜DX3 在中国科学院科学仪器厂(现北京中科科仪技术发展有限责任公司)研发成功。