『壹』 什麼是掃描電子顯微鏡
【掃描電子顯微鏡】簡稱「`SEM`」。一種超高分辨的具表面測試技術的分析儀器。可用於微粒、金屬薄片等表面性質的研究。主要是利用電子束在樣品表面上逐點掃描，通過電子束與樣品相互作用，從樣品上激發出與樣品性質有關的各種信息（如二次電子、背射電子、`X`射線等），通過分別收集這些從樣品上激發出的信息，經電子線路放大處理後輸入以陰極射線管的柵極，控制其電子束的強弱，也即控制陰極射線管的亮度來顯示樣品的圖象。可進行各種圖象觀察、元素分析及品體結構分析，可
『貳』 掃描電子顯微鏡有何特點和用途
一．掃描電鏡的特點
能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
樣品制備過程簡單，不用切成薄片。
樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。
景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。
圖象的放大范圍廣，解析度也比較高。可放大十幾倍到幾十萬倍，它基本上包括了從放大鏡、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。解析度介於光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3nm。
電子束對樣品的損傷與污染程度較小。
在觀察形貌的同時，還可利用從樣品發出的其他信號作微區成分分析。
二．掃描電鏡的用途
顯微結構的分析
納米尺寸的研究
鐵電疇的觀測
『叄』 一般的掃描電子顯微鏡需要多少錢
估計最小倉容尺寸的都要100多萬，電鏡是高科技的東西，如果你配能譜的話更貴
『肆』 全球電子顯微鏡（掃描電鏡，透射電鏡）市場情況如何 如何在中國選購掃描電鏡
全球市場情況：阿貓阿狗國家做不了電子顯微鏡，缺乏理由和實力。美德日軸心國，產品互補，占據產量占據全球80%份額；其次前蘇聯馬前卒先進裝備製造國-捷克，被美國FEI收購大部分產能；中國大躍進年代介入該領域，總體上人亡政息；2000年後，韓國納米技術為國策，堅定進入該領域研製。
如何在中國市場選購：
首先：應該選擇製造商代表處直接聯系！雖然當前中國騙子多，喜歡被騙的也多，我還是要陳述理由！
掃描電鏡的製造和應用技術特點，也決定了在市場環節，不是阿貓阿狗，任何人都能夠做的好的。只有製造商或者非常專業的機構，全力以赴，才能支持用戶的良好使用。然而市場上的情況也是有些混亂的，有些阿貓阿狗區域性儀器經銷商，不知道深淺，從銷售環節介入掃描電鏡市場。實際情況是，掃描電鏡這種專業復雜的精密儀器，和其他產品線很難渠道兼容，在同一個公司內部都不會借用，何況不相乾的公司。實質上任何製造商，除非設立全國總代理，否則都沒有分銷商的明確政策，中間的利益交換，影響製造商的利潤，勢必損害最終用戶的利益。
其次，找專業人士做需求分析。
特別說明韓國掃描電鏡情況：
韓國SeronTech世倫科技：國內沒有專業機構，總代理更換過兩個，經過多年嘗試都已經主動放棄！阿貓阿狗都不聞~
韓國SEC公司：利用一些看起來有點像那麼回事的阿貓阿狗在做代理。
韓國COXEM：由行業專業人士馳奔為首席代表，在北京設立專業推廣及支持機構。大陸和香港有些阿貓阿狗也在搗亂，但國內專業機構，不支持阿貓阿狗行為。
『伍』 電子透射顯微鏡和電子掃描顯微鏡的區別是什麼
透射電子顯微鏡是用透過樣品的電子束使其成像的電子顯微鏡，在一個高真空系統中，由電子槍發射電子束，穿過被研究的樣品，經電子透鏡聚焦放大，在熒光屏上顯示出高度放大的物像，還可作攝片記錄的一類最常見的電子顯微鏡
電子掃描顯微鏡是用電子探針對樣品表面掃描使其成像的電子顯微鏡。應用電子束在樣品表面掃描激發二次電子成像的電子顯微鏡。主要用於研究樣品表面的形貌與成分。
透射電鏡（全稱：透射電子顯微鏡）是一個電子光學儀器。
透射電鏡包含大型透射電鏡、低壓透射電鏡、冷凍電鏡等，並擁有樣品內部組織形貌觀察、原位的電子衍射分析、原位的成分分析、表面形貌觀察等功能。
『陸』 誰能教我分析掃描電子顯微鏡（SEM）的圖片，急求大神。
那你也得說清楚分析什麼，是什麼物質？
『柒』 掃描電子顯微鏡可用於：（ ）
（C）（D）
掃描電子顯微鏡，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。掃描電子顯微鏡正是根據上述不同信息產生的機理，採用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實現。如對二次電子、背散射電子的採集，可得到有關物質微觀形貌的信息；對x射線的採集，可得到物質化學成分的信息。正因如此，根據不同需求，可製造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。
『捌』 掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡，簡稱掃描電鏡，英文名為Scanning Electron Microscope，縮寫為SEM，是利用高能量的電子束在固體樣品表面掃描，激發出二次電子、背散射電子、X射線等物理信號，從而獲得樣品表面圖像及測定元素成分的一種電子光學儀器。
掃描電鏡，按其功能劃分，由電子光學系統、信號檢測和放大系統、掃描系統、圖像顯示和記錄系統、真空系統以及電源系統等六個部分組成（圖5-1）。由電子槍發出，經電磁透鏡會聚的電子束，由掃描線圈控制在固體樣品表面作光柵式掃描，入射至樣品中數微米深的范圍內。這些高能電子與樣品中原子相互作用後，使樣品內產生二次電子、背散射電子、X射線等物理信號。
在入射電子的作用下從固體樣品中射出的，能量小於50e V的電子都稱為二次電子（Secondary Electron，常以縮寫SE表示）。大部分二次電子的能量在3～5e V之間。背散射電子（Backscattered Electron，常以縮寫BE表示）是被固體樣品原子反射回來的入射電子，所以有時又稱為反射電子（reflected electron，請勿稱作背反射電子），其能量與入射電子的能量相等或接近相等。
圖5-1 掃描電子顯微鏡的結構（未顯示電源系統）
掃描電鏡中的成像與閉路電視的成像相似。樣品中產生的二次電子、背散射電子等物理信號可分別由檢測器逐點逐行採集，並按順序和成比例地將物理信號進行處理後輸送到陰極射線管的柵極調制其亮度，顯示出樣品的圖像。掃描電鏡鏡筒中的電子束在樣品表面的掃描與陰極射線管中電子束在成像平面上的掃描是同步的。因此，陰極射線管上的圖像與樣品實物是逐點逐行一一對應的。由於樣品表面各部位的形貌、成分和結構等的差異，被激發的二次電子、背散射電子數量有所不同，從而在陰極射線管上形成反映樣品表面特徵的明暗不同的圖像。因此，掃描電鏡的圖像是一種襯度圖像，並不是彩色圖像。早期的掃描電鏡圖像是模擬圖像，由照相底片記錄。近年來圖像均已數字化，可由計算機儲存和顯示。
由於二次電子能量較低，在距離表面10nm以上的樣品內部產生的二次電子幾乎全被鄰近的原子吸收而無法逸出樣品被檢測器檢測到。因此，二次電子像所反映的信息完全是樣品表面的特徵，是掃描電鏡中使用最多的圖像（圖5-2）。
掃描電鏡圖像的特點是：① 放大倍數范圍大，其有效放大倍數可從數十倍至十萬倍，基本上概括了放大鏡、光學顯微鏡至透射電鏡的放大倍數范圍。②解析度高，景深大，立體感強。其二次電子圖像的解析度已達3nm，比光學顯微鏡約高5個數量級。在同一放大倍數下掃描電鏡圖像的景深比光學顯微鏡的景深大10～100倍。
圖5-2 草莓狀黃鐵礦的掃描電子圖像
掃描電鏡對樣品的基本要求是：①樣品必須是乾燥、清潔的固體，在高能電子束的轟擊下不變形，不變質，並能經受住真空的壓力。②樣品必須導電。不導電的樣品可在表面噴鍍一層導電膜。近幾年有些不導電的樣品在數百伏的低加速電壓下也能進行觀察。因此，光片、沒有蓋玻璃的薄片以及斷面等都能在掃描電鏡中進行觀察。對樣品的大小也沒有嚴格的要求，觀察面積約1cm2，樣品高度小於1cm較為適中。
近年來絕大多數掃描電鏡都配備X射線能譜儀，有時還可配備電子背散射衍射部件，在觀察圖像的同時還可在原地進行微區的成分和結構分析。詳情請見本章第三節和第四節的相關部分。
『玖』 掃描電子顯微鏡的優點
和光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點：
(一) 能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
(二) 樣品制備過程簡單，不用切成薄片。
(三) 樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。
(四) 景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。
(五) 圖象的放大范圍廣，解析度也比較高。可放大十幾倍到幾十萬倍，它基本上包括了從放大鏡、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。解析度介於光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3nm。
(六) 電子束對樣品的損傷與污染程度較小。
(七) 在觀察形貌的同時，還可利用從樣品發出的其他信號作微區成分分析。
『拾』 掃描電子顯微鏡的工作原理
掃描電子顯微鏡的工作原理：
掃描電子顯微鏡的製造依據是電子與物質的相互作用。
掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。
當一束極細的高能入射電子轟擊掃描樣品表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特徵x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。同時可產生電子-空穴對、晶格振動（聲子)、電子振盪（等離子體）。
(10)掃描電子顯微鏡股票擴展閱讀：
研發歷程：
1873 Abbe 和Helmholfz 分別提出解像力與照射光的波長成反比。奠定了顯微鏡的理論基礎。
1931德國物理學家Knoll 及Ruska 首先發展出穿透式電子顯微鏡原型機。
1938 第一部掃描電子顯微鏡由Von Ardenne 發展成功。
1959年第一台100KV電子顯微鏡 1975年第一台掃描電子顯微鏡DX3 在中國科學院科學儀器廠（現北京中科科儀技術發展有限責任公司）研發成功。